屏蔽箱使用方法|影響屏蔽箱隔離度的因素

屏蔽箱是利用導(dǎo)電或者導(dǎo)磁材料制成的殼、板、套等各種形狀的屏蔽體，而屏蔽柜則是其中特殊的一份子，它是其中防電磁能力輻射zui強(qiáng)的一種，將電磁能力限制在一定空間范圍內(nèi)的用于抑制輻射干擾的大型金屬體，給無線通訊設(shè)備提供無干擾的寬敞測(cè)試環(huán)境的設(shè)備。

工具/原料

• 采用屏蔽柜屏蔽的目的有以下：

一、阻礙設(shè)備內(nèi)部無線設(shè)備發(fā)出電磁波信號(hào)越出屏蔽柜

二、防止外部電磁波信號(hào)進(jìn)入屏蔽柜內(nèi)部對(duì)內(nèi)部設(shè)備造成干擾

• 一、屏蔽柜的具體應(yīng)用和作用：

   屏蔽柜的具體應(yīng)用情況描述

   對(duì)于無線通訊產(chǎn)品生產(chǎn)廠家來講，產(chǎn)品快速的上市或者批量生產(chǎn)兩目的能卓有成效的實(shí)現(xiàn)，這無疑是企業(yè)zui關(guān)注的問題，因?yàn)檫@直接影響企業(yè)成本的投入多少與控制zui有效途徑，直接影響后續(xù)企業(yè)市場(chǎng)拓展與市場(chǎng)開發(fā)份額的占有率。

然而，測(cè)試在此占有決定性作用，其中射頻就是其中的一份子，射頻測(cè)試工藝通常是手機(jī)等無線通訊類設(shè)備產(chǎn)線中zui為復(fù)雜、影響zui大的流程，通常也是產(chǎn)線的瓶頸。射頻測(cè)試站通常由測(cè)試儀表、屏蔽箱、自動(dòng)化測(cè)試軟件等幾部分構(gòu)成，通常又可分為校準(zhǔn)測(cè)試、綜合測(cè)試、天線測(cè)試、等。由于生產(chǎn)任務(wù)的要求，通常射頻測(cè)試工藝由多個(gè)相同的測(cè)試站并列運(yùn)行。某個(gè)或某些測(cè)試工位的通過率偏低；產(chǎn)出降低就直接影響產(chǎn)能效率，增加企業(yè)生產(chǎn)成本的投入，測(cè)試無疑就起到了生產(chǎn)過程中的一大瓶頸的作用，而究其原因，大致可分為：產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)、產(chǎn)品投產(chǎn)初期的評(píng)估、產(chǎn)品量產(chǎn)過程的工藝管控、產(chǎn)品回側(cè)率增高、產(chǎn)品測(cè)試環(huán)境及設(shè)備的調(diào)試 等問題。

   EMI\電磁干擾 是整個(gè)電子領(lǐng)域目前面臨和克服的問題，一般在無線通訊產(chǎn)品 比如：手機(jī)、無線路由器、無線網(wǎng)卡、無線耳機(jī)、汽車電子防盜、藍(lán)牙模塊、藍(lán)牙耳機(jī)、WI-FI、WWIMAX、無線數(shù)據(jù)卡、對(duì)講機(jī)、RFID等無線通訊類設(shè)備和無線通訊類模塊等產(chǎn)品在進(jìn)行生產(chǎn)過程中，需經(jīng)過品質(zhì)的檢測(cè) 即：綜測(cè)校準(zhǔn)測(cè)試，吞吐量測(cè)試；而這些都是通過高頻發(fā)射機(jī)輔助完成的，即使高頻就會(huì)干擾，為防干擾就就需隔離，而屏蔽箱、屏蔽柜首當(dāng)其選，用于完成輔助測(cè)試環(huán)境搭建。

• 屏蔽柜作用

***隔離外界電磁波信號(hào)

***隔離相鄰測(cè)試基站間的射頻信號(hào)干擾

***降低人員所受的電磁波信號(hào)輻射

***節(jié)省人員操作設(shè)備時(shí)間

***簡(jiǎn)化企業(yè)產(chǎn)品制造流程，生產(chǎn)

  如今，無線電子產(chǎn)品的工作頻段集中在300MHZ-3GHZ之間，超低頻和超高頻的產(chǎn)品相繼增多，而屏蔽柜則輔助完成超高低頻產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試，主要集中在：80MHZ-6GHZ 這無疑是屏蔽箱產(chǎn)品性能的一次大的超越自我的表現(xiàn)。